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上海精密测量仪品牌 推荐咨询 马波斯测量设备供应

上传时间:2025-04-21 浏览次数:
文章摘要:I-Wave2是手动离线测量先进的精确测量解决方案。此智能量规通过在市场上提供高精度测量性能(亚微米精度)而监控并提高客户产品的质量,这些市场涉及到马波斯工业计算机、测量存储与统计分析。通过将量规与各种测头连接起来,i-Wave2

I-Wave2是手动离线测量先进的精确测量解决方案。此智能量规通过在市场上提供高精度测量性能(亚微米精度)而监控并提高客户产品的质量,这些市场涉及到马波斯工业计算机、测量存储与统计分析。通过将量规与各种测头连接起来,i-Wave2可测量所有类型的内径(3mm及以上)、外径与间隙。I-Wave2是一个创新的可充电、无线测量手柄,带有集成的1.8" TFT彩屏,能够在操作员的手中直接呈现测量值。通过将计算机集成到测量手柄中,马波斯在手动测量技术方面获取了出色的方便性与性能。马波斯测量科技可以供应外圆磨床在线加工测量仪。上海精密测量仪品牌

Handy Wire Scanner是一款电线、电缆与其它类似产品的非接触式测量用便携式光学直径测量仪。由于开发的 LED 与 CCD 技术,它可使用 2 个交叉线性传感器自动补偿位置误差(专利申请中)。因为拥有强大的单片微处理器,能够将测微计线性化并补偿测微计,以在整个测量区域获取尽可能大精确度,无论电线的精确定位如何。通过按下触发器而开始测量且只需花几秒钟,显示器给操作员提供了一个‘三维’可视化显示,以将电线置于有用的测量区,并呈现测量结果。上海外圆磨床在线加工测量仪品牌马波斯测量科技可以供应外圆磨床在线加工测量仪软件。

统计过程控制规定了三个活动阶段:了解过程:必须在其行为中识别过程,并且必须明确规定每个受控特征的规格界限。可变性的特殊原因必须消除,以使过程稳定。使用控制图监控生产过程:这些图表用于及时检测受控特征的均值或方差的变化。控制图的目的是识别始终存在的可变性的常见原因,并将其与特殊原因区分开来。统计过程控制的目标不是检查零件是否良好,而是预测并防止生产出有缺陷的零件。为此,可将控制图作为预测工具,并确定可能导致生产出有缺陷的零件的原因。一旦控制图表示存在不稳定的过程(SPC警报),就必须采取措施控制生产,从而限制了部件不合格和生产线的减速。当控制图没有发出任何警报信号时,该过程可被视为“稳定”或“受控制”;其“过程能力”可以通过“能力研究”进行计算。过程能力是一种用来计算过程在未来指定限制时间内生产零件的能力的指数。**初的Shewart理论基于过程,其特征*由一种正态分布进行描述。随着时间的推移,统计过程控制的能力得到了改进,能够(使用Pearson控制图)分析不同分布描述的连续特征,(使用P控制图和NP控制图)分析离散特征,以及(使用C控制图)和U控制图)分析具有多个缺陷的离散特征。

马波斯在机床精度测量领域拥有60年的经验,是国际市场的佼佼者。为响应测量工件与产品件的几何尺寸与形状时以及设置并检查机械加工过程中使用的刀具时对准确度的要求越来越高的情况,马波斯已研发出一系列新软件包用于其接触式与非接触式测头系统。软件周期的设计旨用于生产周期中,这意味着可将软件周期用于检查机床条件下的零件;这减少了拒收件数量,从经济的角度有效降低了成本。将此软件包与MIDA激光、TBD与VTS系统上的MIDA上的接触式测头一起使用。它们适用于零件与刀具检查过程、每个类型的机床、机械加工中心、铣床与车削中心,此外,它们还能与使用***的数字控制系统兼容数控车床测量仪软件,请联系马波斯测量科技。

可将WRSP60扫描式测头用于检查新加工的部件的轮廓是否正确以及用于直接检测机床中任何表面缺陷,从而避免将此类检查与检测传输到测量实验室,以及避免在需要后续返工的情况中将其重新定位在机床中。马波斯研发的这款WRSP60测头拥有一个无线传输系统,可将其用于在**常用的切屑去除机床上直接扫描零件。在使用WSRP60测头时,可完成一些采用标准接触式测头不能完成的操作或者可**缩短周期时间,如:通过切割程序校正、标准件比较以及跳动检查而完成轮廓质量控制、零件未对准校正与表面变形检查,也可将这些测头用于进行正确定位零件所需的“接触”。带有WRI无线接收器的系统接口能够与安装在工业或标准个人计算机上的软件包通信,从而管理并呈现测量值以及获取数据。可采用WRSP60系统通过对新加工的零件进行轮廓与表面接触式扫描直接在机床环境对机械加工过程进行精确、完整的质量控制。系统采用无线传输系统将数据传到WRI接收器。通过一个**马波斯软件包收集、分析与呈现数据。有一个周期可以连续监测砂轮去除的材料数量,并向机器提供足够的反馈信息。上海机床主轴动平衡测量仪产品资料

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多年来,工业领域的加工生产需要达到高精度,因此,需要使用形状十分复杂的刀具且刀具尺寸极小(甚至小于0.1mm)。在许多应用中,传统技术无能为力。在测量循环中,触发式测头易于导致这类微小刀具破损,因此,不宜用于这类刀具测量l受限于刀具形状和刀具直径与激光光束直径比的限制,激光技术难以保证测量精度要求。事实上,刀具直径和激光光束直径都很小,或刀具切削刃有不同的形状(例如,球头铣刀或平头铣刀),激光无法精确测量这类刀具。如何提升测量技术?马波斯深耕光学测量技术数十年,以丰富的经验成功完成**设计和生产,推出全新配CCD传感器的VTS(视觉对刀仪)产品线。为什么采用光学技术?光学技术可超越传统测量技术的极限,测量形状极复杂的刀具并达到高精度,这令其它技术望其项背。上海精密测量仪品牌

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